原子力顯微鏡是掃描探針顯微鏡的一種,人們經(jīng)常把它和掃描電子顯微鏡相比,下面就來說下它倆各自的優(yōu)缺點。
一、優(yōu)點
相對于掃描電子顯微鏡,原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點。不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像,AFM提供真正的三維表面圖。同時,AFM不需要對樣品的任何特殊處理,如鍍銅或碳,這種處理對樣品會造成不可逆轉(zhuǎn)的傷害。第三,電子顯微鏡需要運行在高真空條件下,原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作。這樣可以用來研究生物宏觀分子 ,甚至活的生物組織。
二、缺點
和掃描電子顯微鏡(SEM)相比,AFM的缺點在于成像范圍太小,速度慢,受探頭的影響太大。原子力顯微鏡是繼掃描隧道顯微鏡之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器,可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測,或者直接進行納米操縱;現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實驗等領(lǐng)域中,成為納米科學(xué)研究的基本工具。
原子力顯微鏡與掃描隧道顯微鏡相比,由于能觀測非導(dǎo)電樣品,因此具有更為廣泛的適用性。當(dāng)前在科學(xué)研究和工業(yè)界廣泛使用的掃描力顯微鏡,其基礎(chǔ)就是原子力顯微鏡。